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512Mpts存儲深度，捕獲長時間波形不失真
存儲深度=采樣率×采樣時間
如果存儲深度不足，高采樣率的情況下只能捕獲一小段波形，ZDS5054D標配512Mpts超大存儲深度，捕獲1024ms波形的情況下，依然可以保持100MSa/s采樣率。
詳細說明：
示波器ZLG100萬次/秒波形刷新率，快速發現異常信號
示波器波形刷新率越高，死區時間就越短，可以更快發現偶發性的異常信號。ZDS5054Pro示波器突破100萬次/秒波形刷新率，讓工程師快速發現異常信號。
示波器ZLG
波形捕獲能力
100萬次/秒波形刷新率，快速發現異常信號
示波器波形刷新率越高，死區時間就越短，可以更快發現偶發性的異常信號。ZDS5054Pro示波器突破100萬次/秒波形刷新率，讓工程師快速發現異常信號。
豐富的觸發方式，靈活捕獲信號
標配13種基本觸發，33種協議觸發，創新的模板觸發，幫助工程師采用靈活地捕獲所需信號。
豐富的數據挖掘功能
參數測量，快速判斷異常
支持54種參數的全屏測量統計，通過FPGA并行計算全部波形的最大值，最小值，平均值，標準差，最多可同時顯示24種參數，計算全程僅需1秒鐘。
波形搜索，快速定位異常
支持邊沿、脈寬、欠幅、上市/下降時間、周期/頻率等多種搜索條件，基于全硬件加速搜索算法，僅需1秒即可從海量波形中快速定位符合搜索條件的波形，自動標記使異常信號一覽無余。
45種協議解碼，助力通信協議調試
ZDS5054Pro、ZD5054D標配45種串行通信協議解碼，涵蓋常用的現場總線、系統總線以及內部總線。3秒鐘即可完成512Mpts波形解碼，協助工程師快速完成通信調試。
時序分析：1秒完成通信時序一致性測試
手機、智能穿戴、家電、智慧屏、多媒體影音等嵌入式智能設備，對于內部總線通信時序一致性有嚴格要求。ZDS5054D創新的時序分析功能，可分析IIC、IIS、SPI、MIPI-RFFE等信號的脈寬、幅值、邊沿、建立時間、保持時間等多種組合參數，原本手動測試需要幾十分鐘，使用時序分析功能自動測試僅需一秒鐘即可完成，并可導出測試報告。
分段存儲，52萬幀歷史波形記錄
對于偶發信號的波形統計分析，過去需要工程師蹲守在示波器前進行手動測試。分段存儲功能可對觸發的特定波形進行存儲、回放，波形幀數最高可達52萬幀，解放工程師的工作。
FIR硬件實時濾波器
ZDS5000示波器內置FIR硬件實時濾波器，可在10Hz-200MHz范圍內任意調節示波器帶寬，精準過濾特定頻點的噪聲與干擾信號，只呈現有效信號。
電源分析：助力電源信號完整性分析
ZDS5054A電源分析功能涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調制波形測試等功能，評測電源可靠性。
MOSFET開關損耗精準量化
功率MOSFET開關損耗測試是PFC電源調試中的難點，由于SPWM每個周期的開關損耗都不相同，傳統通過手光標和數學運算手動測試的方式已經不適用。ZDS5054A示波器標配250Mpts存儲深度，可捕獲多個完整調制周期SPWM波形，自動統計各開關周期的開通/關斷/導通損耗，計算最大值、最小值、平均值，準確量化開關器件的功率損耗。
SOA測試：有效保障MOSFET工作安全
功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區，會導致器件損壞、爆炸的風險陡增，常規調試手段難以對器件的各種工況進行全面評估。SOA 安全工作區分析功能，可統計MOSFET在所有工況下瞬時參數超出安全工作區的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩定性。
環路分析：快速判斷電源環路穩定性
穩定的反饋環路對開關電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動態性能就會很差或者出現輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現負反饋系統的增益、相位的頻率響應曲線，通過分析系統的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統是否穩定。
內置雙通道AFG信號發生器
內置雙通道函數信號發生器，支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標準函數信號輸出，可調節信號初始相位、占空比，頻率最高可達30MHz。
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